Губкина В. Р., Глухов А. В., Рогулин Л. Ю. Методика проведения испытаний для интегральных микросхем преобразователя напряжения с целью обнаружения скрытых дефектов // Современные проблемы телекоммуникаций : Российская научно-техническая конференция : материалы конференции. Новосибирск, 2015. С. 415-422.